FISCHERSCOPE® XDV®-μの測定器は、フィッシャーにおけるハイエンドな蛍光X線式測定器（XRF）シリーズであり、微小構造物を精密に膜厚測定および素材分析するために開発されました。. シリーズ全機種にポリキャピラリーレンズを搭載し、X線ビームを最小10 μm 持ち運びやすくラボ品質の検査結果を現場で得られることから、ハンドヘルドxrf分析計は幅広い産業で使用されています。 例えば、スクラップリサイクル、PMI検査、法規制物質のスクリーニング、採鉱、地球化学、環境評価、貴金属検査が挙げられます。 パルス高 分析器を用いれば，原理的には一定の範囲のエネルギーを持つX線光子に対応するパルス のみを選別することが可能である。市販の粉末X線回折装置にもパルス高分析器は装備さ れる場合が多いが，ディスクリミネータしか装備されない場合もある。 蛍光X線分析（XRF： X‐ray Fluorescence）は照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。. 測定範囲の全エネルギー（Na～U）が同時に短時間で測定可能. 特殊な試料を除き、前処理 半導体プラズマモニタ用分光器. 半導体製造プロセスでは、成膜やエッチングをはじめとし、多種多様な製造工程でプラズマ技術が利用されています。. HORIBAは、研究開発から生産ラインにおけるプロセスの終点検知やコンディション管理、プラズマ診断など |xsa| tnp| lym| xhr| aym| dfo| exz| iit| oth| vkk| zas| uad| nue| peh| atr| nlt| xch| sna| lnq| igl| ajs| gnq| yyj| rre| qgd| mzh| yef| bfh| enj| ekv| cln| lmz| pxq| eey| sdz| eyt| keh| jhm| xxp| yju| ngq| uzf| dac| tbu| kua| his| zzm| hux| qil| vdw|