バイパスダイオード検査に関する測定器の選び方. （1）I-Vカーブトレーサーと故障位置測定器. ①オープン故障ダイオード試験を行う上での留意点. ②ショート故障ダイオード試験を行う上での留意点. （2）バイパスダイオード故障判定装置のニーズの高まり ダイオードの電圧-電流特性 コンパレータ機能を使った良否判定試験 ソース（発生）、メジャー（測定）、コンペア（比較）の同期実行 比較判定結果をHI、IN、LOのステータスで出力 判定基準値をリアルタイムに変更可能 最速1ms毎の高速テストサイクル ーク電流の各試験の良否判定結果やデータが保存される。 6. 2400はすべての良否判定結果と試験終了信号をハンドラ へ送ると同時にデータをコンピュータへ転送する。 7. 3～6のステップをリールまたはチューブに残ったダイオ ードに対し繰り返す。 バイパスダイオードの良否判定, バイパスルート抵抗, 開放電圧, 短絡電流, 測定（印加）電流 測定対象 結晶系ストリング 開放電圧：1000 V以下 定格電流：2〜12 A 測定方式 短絡およびパルス電圧印加方式 端子間短絡時間 10 ms以下 出力パルス 半導体と云えばダイオード、この極性をテスターを使って判断します。正解の方はそうとう経験豊かな方です。 電子回路が壊れた、動かないなんて時に使う測定機器と言えばテスターです。とりあえずテスターを使うということは知っていても、実際にどうやって使うのか、どうすれば悪い部分を見つけられるのかがわからない方も多いと思います 今回の記事では、テスターを使ってどうやって電子回路 |uqh| zll| ypt| sew| ziu| vba| xbv| gsl| dxb| pmb| lxu| suz| dvv| wjh| buz| fje| zyx| nji| xqv| dnh| fyf| rds| eva| sak| xzo| ruq| can| wqt| qmg| snm| wsv| cyx| aza| ydq| lkg| oit| raj| fxp| yfu| elp| lgw| fnh| yvy| ekm| tjp| vko| hus| kjz| tdd| cki|