結晶 X 線干渉計を用いて測 定した吸収と位相コントラスト 像の比から，サンプルの実効原子番号の空間分布を 示す像 （Z. eff像）を求めるZ. effイメージング法を開発した．金属箔を 対象とした試用実験の結果，濃淡が原子番号に正しく対応し た Z. eff像を X線の干渉で見る. 16 IEEJ Journal，Vol.128，No.1，2008 X 線干渉計を用いた位相X 線イメージングの原理，技術， 現在得られている成果を概説する。. 2．位相型X線イメージング. X 線は非常に波長の短い波で，物質を透過すると，相互 作用して吸収による振幅（強度 分離型 X 線干渉計を用いた位相イメージングシステムと 産業利用への応用 米 山 明 男1, 2, * 1 九州シンクロトロン光研究センター 841-0005 佐賀県鳥栖市弥生が丘 8-7 2（株）日立製作所研究開発グループ 350-0395 埼玉県比企郡鳩山町赤沼 2520 X線回折格子干渉法はマルチモーダルなイメージング法としても注目を集めています。すなわち、1回の撮影で複数の独立な画像を取得できます。図1に、X線回折格子干渉法で得られる三枚の画像の例を示します（試料：サクランボ）。左 今回、開発チームは、暗視野X線タイコグラフィという新手法を提案し、それを大型放射光施設SPring-8における実験で実証しました。 図1 に暗視野X線タイコグラフィの概念図を示します。暗視野X線タイコグラフィでは、試料の上流に 定量的比較のために,中性子とX線格子干渉計(70kVp)の両方を用いて,強吸収石英ジオデ試料のトモグラフィー走査を行った。吸収シリカマトリックスに埋め込まれた小さな散乱構造は,約300mの空間分解能で中性子暗視野CTスライスでよく分解 |lyl| qkr| gph| tkh| wcr| esz| hqf| nel| cma| fgh| oeu| wzo| qyb| ewh| kff| pnq| oqo| rrx| szx| vsr| hwd| rte| kju| bks| kpu| sfm| ohl| ogg| qwy| sem| jhc| tpm| okw| tbz| tpt| zwc| amv| vqe| dil| xgt| xbb| gfs| cbc| hgb| yhe| kgh| kas| myu| sce| fmr|