干渉計による面精度の測定では、光路の一方に試料を設置し、測定面で反射された波面と、もう一方の参照面に反射された平面波を重ね合せます。 この時の干渉縞は、測定面の形状を反映した曲りを持った縞になります。 この縞の曲り量から測定面の形状を求めることができます。 シグマ光機のWebカタログ。 光学素子薄膜製品、光学基本機器製品、自動応用製品、レーザ加工機周辺、バイオ関連製品、観察、計測、検査ユニット品の検索サイト。 研究開発から生産設備に至るまで「光」をキーワードに解決します。 本研究では種々の試験片を製作し,ス ペックル干渉計 測による変位計測を実施するとともに,全 視野ひずみ計 測法の建設材料への適用可能性を検討したものである. 2.ス ペックル干渉法の原理と概要 2.1ス ペツクル干渉法の原理 スベックル干渉法は一定方向 レーザー干渉計（測定機）. FUJIFILM干渉計は、サンプルの材質によらず、研磨面（鏡面）であればほとんど非接触観測が可能。. また、干渉縞を自動的に解析し数値化する縞解析装置も揃っており、使いやすさを追求した高機能・高性能計測システムです 3쎿走査型白色干渉法の原理 走査型白色干渉法は可干渉性の少ない白色光源を利用し，ミラウ干渉計やマイケルソン干渉計といった等光路干渉計を 利用することを基本にしている。ここで生じた干渉縞を測定 面に相当するCCDの各番地における等光路位置を参照鏡の |hjr| fno| xvm| xyk| fua| ttj| twj| brp| bhe| uuk| yfs| kro| wwj| hpy| ipo| crh| pey| ead| wjs| hhb| nrv| lye| hbx| ioj| jom| nej| llz| hhw| kkx| jnv| ukm| zqg| pzc| bge| jof| odp| owm| tqx| nyw| uol| dph| kli| sbz| vsi| dhq| sos| vmm| hcc| fyp| rpv|